ASTM E 391-1995 相位图的表示

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 06:16:25   浏览:8792   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:PresentationofPhaseDiagrams
【原文标准名称】:相位图的表示
【标准号】:ASTME391-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:工艺;相位图;试验
【英文主题词】:phasediagrams;testing;processes
【摘要】:
【中国标准分类号】:A41;A42
【国际标准分类号】:01_100_10
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:CommonDataSchemaforComplexSystems
【原文标准名称】:综合系统通用数据模型
【标准号】:ANSI/GEIA927-2007
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2007
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:概念;数据;电子产品;交换;工业管理;信息技术;寿命周期;产品信息;项目管理;公共管理
【英文主题词】:Concepts;Data;Electronicproducts;Exchange;Industrialmanagement;Informationtechnology;Lifecycles;Productinformation;Projectmanagement;Publicadministration
【摘要】:Documentspecifiesthedataconceptstobeexchangedtoshareproductinformationpertainingtoacomplexsystemfromtheviewpointsofmultipledisciplines.Itsupportstheexchangeofdataacrosstheentirelifecyclefortheproductfromtheconceptstagethroughdisposal.Itembracesseveralaspects:technicalaspectswhichleadtothedefinitionoffunctionalandphysicalarchitectures;technicalmanagement;projectaspectswhichincludeprojectmanagementissues;andindustrialmanagement.
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:35_240_50
【页数】:
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
英文名称:Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-20:Digital integrated circuits - Family specification - Low voltage integrated circuits
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 半导体集成电路
ICS分类: 电子学 >> 集成电路、微电子学
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2006-12-05
实施日期:2007-05-01
首发日期:2006-12-05
作废日期:
主管部门:信息产业部(电子)
提出单位:信息产业部
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位:中国电子技术标准化研究所
起草人:李锟
出版社:中国标准出版社
出版日期:2007-05-01
页数:平装16开 页数:7, 字数:9千字
计划单号:20030159-T-339
适用范围

本规范的目的是给出低压集成电路不同分组的接口规范,包括电源电压、容差和最坏情况下的输入、输出电压极限值。同时给出每类标称电压的两种接口规范:正常范围和宽范围。正常范围是依据工业标准制定的,典型容差大约是10%。宽范围是扩展到一个较宽的范围,可以使电池继续工作的实际值。

前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 微电路 半导体集成电路 电子学 集成电路 微电子学