ASTM F 1467-1994 微电子装置的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用
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时间:2024-05-30 04:42:37
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【英文标准名称】:UseofanX-RayTester(isApproximatelyEqualto10keVPhotons)inIonizingRadiationEffectsTestingofMicroelectronicDevices
【原文标准名称】:微电子装置的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用
【标准号】:ASTMF1467-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线仪;微电子学;电子工程;试验设备
【英文主题词】:microelectronics;testequipment;x-rayapparatus;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:微电子装置的电离辐射效应试验中X射线测试仪(近似等于10keV辐射量子)的使用
【标准号】:ASTMF1467-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线仪;微电子学;电子工程;试验设备
【英文主题词】:microelectronics;testequipment;x-rayapparatus;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:L04
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:
【正文语种】:英语
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